应用案例

 在单一系统中以最多三种激光波长（405、532 和 633 nm）直接关联 CL 与 PL 数据，从而解锁新的材料洞察。向 SEM-CL 系统耦合光的能力进一步打开了新的实验路径，可研究光 与电子束曝光对样品的影响，或利用这些效应在局部改变材料性质。