Sparc Spectral 3.0 光谱型 CL 系统
Cathodoluminescence Spectroscopy & Imaging
- 光谱与多模式CL分析，具体模式依配置而定
- 自动化工作流程，支持数据采集与分析
- 模块化设计，可按研究需求选择光学与探测配置
BEYOND THE MICROSCALE
从微观,看见更大的可能
聚焦先进电子显微与多维表征技术，为您的 SEM / TEM
拓展原位、光谱与关联分析能力。
三步解决方案
从研究领域、科学问题到采购要求,快速匹配最合适的技术与产品
01
我们研究什么?
选择您的应用领域
02
我要解决什么问题?
选择关键的科学问题或技术需求
03
我的采购要求?
选择产品来源
Featured Technology
把功能拓展、原位过程与多模态关联带到您的现有镜体上。
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Sparc Compact 高性能阴极发光探测器
Compact Cathodoluminescence Detector
- 全色与滤色强度成像，观察样品发光差异
- 结合SEM图像，关联微观结构与发光信息
- 模块化平台，升级能力以具体配置为准
Jolt 入门级阴极发光探测器
Cathodoluminescence Intensity Detector
- 无需用户对准，快速开始CL成像
- 全色成像，RGB能力按选配提供
- 支持与其他SEM信号开展关联观察，具体适配需确认
LiteScope AFM-in-SEM 电镜式原子力显微镜
LiteScope AFM-in-SEM
- SEM导航探针，定位感兴趣区域
- AFM获取表面三维形貌及相应测量信息
- CPEM关联SEM与AFM数据；
- 测量模式依探针、模块及配置而定
Vesta 原位光热与光谱分析系统
In-situ Laser Heating & Optical Excitation
- 局域激光作用于感兴趣区域
- 支持光斑定位与对准
- 按镜体、激光源与研究需求配置实验方案
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应用案例
真实案例 · 论文出处 · 关联 Webinar / 期刊解读
全球伙伴
与全球表征技术领导者同行
选择芯无界的理由
与全球表征技术领导者同行
全球前沿技术
聚焦电子显微表征与 SEM/TEM 附件，引入 CL、AFM-in-SEM、原位 TEM、先进显微扩展、TEM 样品制备等国际创新技术，服务高校、科研院所与高科技产业用户。
从科学问题出发
按「研究领域 → 科学问题 → 国产/进口型号」匹配方案，而不是按货架堆产品；先帮客户看清要解决什么，再落到技术与型号。
上海 Demo & Application Center
本地演示与应用实验能力，缩短选型、验证与方法摸索周期，让客户在采购前就能看到真实效果。
应用工程师长期陪伴
从方案沟通、选型演示，到样品测试建议与售后应用支持，由应用工程师全程跟进——随时可通过微信、电话、在线或提交样品联系。
技术资源
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