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NenoVision

LiteScope AFM-in-SEM: 在扫描电镜内做 原子力与电镜的原位关联分析

高灵度，多通道探测

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高光谐/角分辨/时间分辨

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与SEM完全集成

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适用于半导体、光电、地质、材料等

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