本期 webinar 将通过实际操作演示，介绍如何使用 NenoVision LiteScope 开展测量。从仪器与样品准备、探针定位，到启动 AFM 测量及查看数据，带您了解 LiteScope 的基本操作流程。

LiteScope 可集成于扫描电子显微镜（SEM）中，实现样品的原位 AFM 测量，并结合 SEM 观察与 AFM 表面形貌分析。通过本次教程，您将进一步了解测量过程中的关键步骤，以及 AFM 与 SEM 关联分析如何帮助获取样品的微纳尺度信息。