NenoVision LiteScope 电镜式原子力显微镜 (AFM-In-SEM) 是一款专为扫描电镜（SEM）设计的原位多模态关联分析系统。它可无缝嵌入主流 SEM 腔体内，借助电镜实时视角精准定位探针，在同一环境与位置同步获取 AFM 与 SEM 数据。系统广泛用于材料科学与纳米技术、半导体与微纳电子器件、生命科学与生物医学及能源、储能与催化的研究。